NF C86-253-1987 电子元件统一质量评审体系.集成电路动态可读可写随机存取存储器.分规范
作者:标准资料网
时间:2024-05-09 18:09:22
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【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Mosread/writedynamicmemoriessiliconmonolithiccircuits.Blankdetailspecification.
【原文标准名称】:电子元件统一质量评审体系.集成电路动态可读可写随机存取存储器.分规范
【标准号】:NFC86-253-1987
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1987-06-01
【实施或试行日期】:1987-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Blankforms;Detailspecification;Digitalintegratedcircuits;Direct-accessstorage;Dynamic;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Forms(paper);Harmonization;Inspection;Integratedcircuits;Integratedmemorycircuits;MOScircuits;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Qualityassurance;Qualityassurancesystems;Ratings;Semiconductordevices;Storagecircuits;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L62
【国际标准分类号】:31_200;35_160
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:电子元件统一质量评审体系.集成电路动态可读可写随机存取存储器.分规范
【标准号】:NFC86-253-1987
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1987-06-01
【实施或试行日期】:1987-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Blankforms;Detailspecification;Digitalintegratedcircuits;Direct-accessstorage;Dynamic;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Forms(paper);Harmonization;Inspection;Integratedcircuits;Integratedmemorycircuits;MOScircuits;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Qualityassurance;Qualityassurancesystems;Ratings;Semiconductordevices;Storagecircuits;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L62
【国际标准分类号】:31_200;35_160
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:其他
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