ASTM F 1390-1997 自动非接触式扫描法测量硅晶片翅曲度的试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-09 22:26:32
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringWarponSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:自动非接触式扫描法测量硅晶片翅曲度的试验方法
【标准号】:ASTMF1390-1997
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;试验;硅;电子工程
【英文主题词】:testing;materials;silicon;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:自动非接触式扫描法测量硅晶片翅曲度的试验方法
【标准号】:ASTMF1390-1997
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;试验;硅;电子工程
【英文主题词】:testing;materials;silicon;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:
【正文语种】:英语
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