作者:标准资料网 时间:2024-04-29 08:50:25   浏览:8467   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardGuideforApplicationofCertifiedReferenceMaterialsandReferenceWafersforCalibrationandControlofInstrumentsforMeasuringResistivityofSilicon
【原文标准名称】:硅电阻率测量仪校准和控制用硅标准物质和标准硅片使用的标准指南
【标准号】:ASTMF1527-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;薄片
【英文主题词】:certifiedreferencematerials;controlchart;eddycurrentgage;four-pointprobemethod;mercuryprobe;referencematerials;resistivity;resistivityreferencewafer;semiconductor;sheetresistance;siliconwafers;SPC;spreadingresistancepr
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1ThisguidecoverstheapplicationofCertifiedReferenceMaterials(CRMs)forresistivitymeasurementsonsiliconwafers.Specifically,thisguidecoverstheuseoftheseCRMsfor
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:15P.;A4
【正文语种】: