YD/T 1124-2001 号码可携带业务技术要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 16:42:13   浏览:8846   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:号码可携带业务技术要求
英文名称:The Technical Requirements for Number Portability Service
中标分类: 通信、广播 >> 通信网 >> 各种通信业务服务
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2001-05-25
实施日期:2001-11-01
首发日期:
作废日期:
提出单位:信息产业部电信研究院
归口单位:信息产业部电信研究院
起草单位:信息产业部电信传输研究所、深圳华为有限公司、深圳市中兴通讯股份有限公司、上海贝尔有限公司
出版社:人民邮电出版社
出版日期:2001-11-01
页数:26页
适用范围

本标准规定了公用电话交换网上提供号码可携带业务的业务种类、业务特征、业务实施方案、计费和补充业务的关系要求等。本标准适用于在公用电话网上提供地理位置可携带的NP业务、运营者号码可携带、业务的号码可携带业务。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 通信 广播 通信网 各种通信业务服务
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Aerospaceseries-Cableoutletaccessoriesforcircularandrectangularelectricalandopticalconnectors-Part062:Cableoutlet,styleK,90°,forheatshrinkableboot,shielded,sealed,self-lockingforEN3645-Productstandard;GermanandEnglish
【原文标准名称】:航空航天系列.圆形和矩形电气和光连接器用电缆出口附件.第027部分:EN3645标准用自锁密封屏蔽的热收缩启动用K款90°电缆出口.产品标准.德文和英文版本EN3660-062-2009
【标准号】:DINEN3660-062-2010
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2010-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;航空运输;航空器部件;圆形连接器;圆形;组件;连接尺寸;设计;名称与符号;尺寸规格;电连接器;电插头;电气工程;外壳;热缩元件;检验;作标记;光学连接器;插头;产品标准;矩形连接器;扁形;自锁紧;航天运输;规范(验收);终端铸件;试验;公差(测量);类型
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Aircraftcomponents;Circularconnectors;Circularshape;Components;Connectingdimensions;Design;Designations;Dimensions;Electricconnectors;Electricplugs;Electricalengineering;Enclosures;Heatshrinkablecomponents;Inspection;Marking;Opticalconnectors;Plugs;Productstandards;Rectangularconnectors;Rectangularshape;Self-locking;Spacetransport;Specification(approval);Terminalcasings;Testing;Tolerances(measurement);Types
【摘要】:
【中国标准分类号】:V25
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:31P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General
【原文标准名称】:半导体器件.机械和环境试验方法.第1部分:总则
【标准号】:IEC60749-1Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;气候;气候试验;组件;尺寸;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境条件;环境试验;易燃性;集成电路;机械试验;潮气;特性;耐力;半导体器件;半导体;温度;试验;外观检查(试验)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentalcondition;Environmentaltesting;Flammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Properties;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThisstandardisSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General;Corrigendum1.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语